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文章概述：X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱来确定位错的类型和密度。
电子显微镜法：直接观察晶体中的位错结构。
原子力显微镜法：可用于检测表面位错。
光学显微镜法：在特定条件下可
X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱来确定位错的类型和密度。
电子显微镜法：直接观察晶体中的位错结构。
原子力显微镜法：可用于检测表面位错。
光学显微镜法：在特定条件下可观察到位错。
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