因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同，相应的参考标准请咨询在线工程师！
文章概述：X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错密度。
透射电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
扫描电子显微镜：用于观察样品表面的形貌和位错特征。
原子力显微镜：可提供高分辨
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错密度。
透射电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
扫描电子显微镜：用于观察样品表面的形貌和位错特征。
原子力显微镜：可提供高分辨率的表面形貌图像，包括位错。
电子背散射衍射仪：用于确定晶体取向和位错类型。
