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文章概述：电子显微镜检测法：通过电子显微镜观察材料的微观结构，直接观察到位错节的存在和形态。
X 射线衍射法：利用 X 射线衍射技术分析材料的晶体结构，确定位错节的位置和密度。
原子力
电子显微镜检测法：通过电子显微镜观察材料的微观结构，直接观察到位错节的存在和形态。
X 射线衍射法：利用 X 射线衍射技术分析材料的晶体结构，确定位错节的位置和密度。
原子力显微镜检测法：通过原子力显微镜扫描材料表面，检测位错节引起的表面形貌变化。
