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文章概述：X 射线衍射法：通过分析 X 射线在晶体中的衍射图案来确定位错间距。
电子显微镜法：直接观察晶体中的位错结构，从而测量位错间距。
原子力显微镜法：利用原子间的相互作用力来测量
X 射线衍射法：通过分析 X 射线在晶体中的衍射图案来确定位错间距。
电子显微镜法：直接观察晶体中的位错结构，从而测量位错间距。
原子力显微镜法：利用原子间的相互作用力来测量位错间距。
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