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文章概述：X 射线衍射法：通过分析衍射图谱来确定位错环的存在和特征。
电子显微镜法：直接观察位错环的形态和分布。
原子力显微镜法：提供高分辨率的位错环图像。
光学显微镜法：适用于较大
X 射线衍射法：通过分析衍射图谱来确定位错环的存在和特征。
电子显微镜法：直接观察位错环的形态和分布。
原子力显微镜法：提供高分辨率的位错环图像。
光学显微镜法：适用于较大尺寸的位错环检测。
扫描探针显微镜法：可在原子尺度上检测位错环。
