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文章概述：扫描电子显微镜（SEM）：用于观察材料的表面形貌和微观结构。
X 射线衍射仪（XRD）：用于分析材料的晶体结构。
原子力显微镜（AFM）：用于测量材料的表面形貌和力学性质。
透射电子显微镜（TEM）：
扫描电子显微镜（SEM）：用于观察材料的表面形貌和微观结构。
X 射线衍射仪（XRD）：用于分析材料的晶体结构。
原子力显微镜（AFM）：用于测量材料的表面形貌和力学性质。
透射电子显微镜（TEM）：用于观察材料的微观结构和晶体缺陷。
拉曼光谱仪：用于分析材料的分子结构和化学键。
荧光光谱仪：用于检测材料的荧光性质。
热重分析仪（TGA）：用于分析材料的热稳定性和分解过程。
差示扫描量热仪（DSC）：用于测量材料的热性能，如熔点、玻璃化转变温度等。
