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微量分析天平检测仪器

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文章概述:微量分析天平是一种高精度的称量仪器,用于测量微量物质的质量。它通常具有以下特点:
1. 高精度:能够测量微小质量的变化,精度通常在微克甚至纳克级别。
2. 稳定性好:能够在长时间

微量分析天平是一种高精度的称量仪器,用于测量微量物质的质量。它通常具有以下特点:

1. 高精度:能够测量微小质量的变化,精度通常在微克甚至纳克级别。

2. 稳定性好:能够在长时间内保持稳定的称量结果。

3. 灵敏度高:对微小质量的变化非常敏感。

4. 自动化程度高:可以自动完成称量、去皮、校准等操作,提高工作效率。

5. 数据处理功能:可以将称量结果自动存储、打印或传输到计算机进行数据分析。

6. 应用广泛:适用于化学、生物、医学、环境等领域的微量物质分析。

微量分析天平检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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