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微量不均匀性检测仪器

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文章概述:激光粒度分析仪:通过测量颗粒的散射光强度来确定颗粒的大小分布。
电子显微镜:可直接观察样品的微观结构,包括颗粒的形状、大小和分布。
原子力显微镜:用于测量样品表面的形貌和

激光粒度分析仪:通过测量颗粒的散射光强度来确定颗粒的大小分布。

电子显微镜:可直接观察样品的微观结构,包括颗粒的形状、大小和分布。

原子力显微镜:用于测量样品表面的形貌和粗糙度,可检测到微小的不均匀性。

X 射线衍射仪:分析样品的晶体结构,可检测到晶体的缺陷和不均匀性。

荧光显微镜:可用于检测样品中的荧光标记物,以确定其分布和不均匀性。

色谱仪:用于分离和分析样品中的化学成分,可检测到成分的不均匀性。

质谱仪:分析样品中的化学成分,可检测到微量的不均匀性。

微量不均匀性检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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