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微刻度检测仪器

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文章概述:微刻度检测通常需要使用高精度的仪器设备,以下是一些常见的微刻度检测仪器:
1. 显微镜:用于观察微小物体的形态和结构,可以检测微刻度的尺寸、形状和表面特征。
2. 激光干涉仪:通

微刻度检测通常需要使用高精度的仪器设备,以下是一些常见的微刻度检测仪器:

1. 显微镜:用于观察微小物体的形态和结构,可以检测微刻度的尺寸、形状和表面特征。

2. 激光干涉仪:通过测量激光干涉条纹的变化来精确测量微刻度的尺寸和形状。

3. 扫描电子显微镜(SEM):可以提供高分辨率的图像,用于检测微刻度的表面形貌和微观结构。

4. 原子力显微镜(AFM):能够测量微刻度的表面粗糙度、高度和形貌等参数。

5. 光学轮廓仪:用于测量微刻度的三维轮廓和表面粗糙度。

6. 白光干涉仪:可以实现高精度的微刻度测量,尤其适用于非接触式测量。

7. 纳米压痕仪:用于测量微刻度的硬度和弹性模量等力学性能。

8. 台阶仪:用于测量微刻度的台阶高度和表面平整度。

9. 轮廓投影仪:可以快速测量微刻度的尺寸和形状。

10. 三坐标测量机:能够精确测量微刻度的三维坐标和尺寸。

微刻度检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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