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微量分析天平检测方法

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文章概述:微量分析天平通常用于检测微量物质的质量,其检测范围通常在微克到毫克级别。
检测方法包括直接称量法、减量法、增量法等。
直接称量法是将待测物质直接放在天平上进行称量。

微量分析天平通常用于检测微量物质的质量,其检测范围通常在微克到毫克级别。

检测方法包括直接称量法、减量法、增量法等。

直接称量法是将待测物质直接放在天平上进行称量。

减量法是先称取一定量的物质,然后再称取剩余物质的质量,两者之差即为待测物质的质量。

增量法是先称取空容器的质量,然后加入待测物质,再称取总质量,两者之差即为待测物质的质量。

微量分析天平检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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