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微观裂纹检测仪器

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文章概述:光学显微镜:用于观察材料表面的微观结构,可检测到微米级别的裂纹。
电子显微镜:能够提供更高分辨率的图像,可检测到纳米级别的裂纹。
扫描电子显微镜(SEM):可以对样品进行高分辨率

光学显微镜:用于观察材料表面的微观结构,可检测到微米级别的裂纹。

电子显微镜:能够提供更高分辨率的图像,可检测到纳米级别的裂纹。

扫描电子显微镜(SEM):可以对样品进行高分辨率成像,同时还能进行成分分析。

原子力显微镜(AFM):适用于检测纳米级别的表面形貌和微观结构。

X 射线衍射仪:用于分析材料的晶体结构,可检测到裂纹对晶体结构的影响。

超声波探伤仪:利用超声波在材料中的传播特性,检测材料内部的裂纹和缺陷。

渗透探伤剂:通过渗透剂的渗透作用,检测表面开口的裂纹。

磁粉探伤仪:适用于检测铁磁性材料表面和近表面的裂纹。

涡流探伤仪:利用涡流效应检测导电材料表面和近表面的裂纹。

微观裂纹检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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