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文章概述：扫描电子显微镜（SEM）：用于观察样品表面的微观形貌和结构。
透射电子显微镜（TEM）：可以提供更高分辨率的微观结构信息。
原子力显微镜（AFM）：用于测量样品表面的形貌、粗糙度和力学性质
扫描电子显微镜（SEM）：用于观察样品表面的微观形貌和结构。
透射电子显微镜（TEM）：可以提供更高分辨率的微观结构信息。
原子力显微镜（AFM）：用于测量样品表面的形貌、粗糙度和力学性质。
扫描隧道显微镜（STM）：能够在原子尺度上观察和操纵样品表面。
X 射线衍射仪（XRD）：用于分析晶体结构和物相组成。
能谱仪（EDS）：与 SEM 或 TEM 结合使用，用于元素分析。
傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）：可分析样品的化学键和官能团。
拉曼光谱仪：提供分子振动和结构信息。
荧光光谱仪：用于研究物质的荧光特性和发光机制。
热重分析（TGA）：测量样品在加热过程中的质量变化。
差示扫描量热仪（DSC）：分析样品的热性质和相变。
