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微电子束分板检测仪器

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文章概述:扫描电子显微镜:用于观察样品的微观结构和表面形貌。
X 射线衍射仪:可对样品进行物相分析和晶体结构测定。
能谱仪:用于分析样品的元素组成和化学状态。
原子力显微镜:可对样品

扫描电子显微镜:用于观察样品的微观结构和表面形貌。

X 射线衍射仪:可对样品进行物相分析和晶体结构测定。

能谱仪:用于分析样品的元素组成和化学状态。

原子力显微镜:可对样品进行高分辨率的表面形貌和力学性能测试。

激光共聚焦显微镜:用于观察样品的三维结构和荧光标记。

热重分析仪:可对样品进行热稳定性和分解行为的分析。

差示扫描量热仪:用于研究样品的热转变和热力学性质。

红外光谱仪:可对样品进行化学键和官能团的分析。

拉曼光谱仪:用于研究样品的分子结构和振动模式。

电化学工作站:可对样品进行电化学性能测试,如电极反应、电导率等。

微电子束分板检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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