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杂质限度检测仪器

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文章概述:以下是常用的仪器和方法来进行杂质限度检测:
1. 紫外可见分光光度计(UV-Vis): 用于测量样品在紫外和可见光波段的吸光度,根据吸光度值来判断是否含有杂质。
2. 液相色谱仪(HPLC):

以下是常用的仪器和方法来进行杂质限度检测:

1. 紫外可见分光光度计(UV-Vis): 用于测量样品在紫外和可见光波段的吸光度,根据吸光度值来判断是否含有杂质。

2. 液相色谱仪(HPLC): 通过将样品溶解在溶剂中,利用高压将样品溶液从柱中分离出不同组分,并测量每个组分的含量。可用于检测有机杂质和无机杂质。

3. 气相色谱仪(GC): 将样品蒸发为气体后通过柱子进行分离,再通过探测器检测各个组分的浓度。主要用于检测挥发性有机溶剂或气体中的杂质。

4. 质谱仪(MS): 将样品中的化学物质离子化后,根据离子的质量-荷电比例选择性地进行检测分析。常与色谱仪联用,用于检测样品中的有机杂质和无机杂质。

5. 红外光谱仪(IR): 通过测量样品在红外光波段的吸收和散射,来确定样品中的功能基团和杂质。

6. 原子吸收光谱仪(AAS): 用于检测样品中的金属离子,通过测量样品对特定波长的吸收能力来确定杂质的含量。

7. 高效液相质谱联用仪(LC-MS): 结合了HPLC和质谱仪的优点,能够对复杂样品中的杂质进行定性和定量分析。

杂质限度检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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