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文章概述：应变片：应变片是一种用于测量物体表面应变的传感器。它可以通过粘贴在被测物体表面上，随着物体的变形而产生电阻变化，从而测量出物体的应变值。应变片可以用于测量弯扭等力学参
应变片：应变片是一种用于测量物体表面应变的传感器。它可以通过粘贴在被测物体表面上，随着物体的变形而产生电阻变化，从而测量出物体的应变值。应变片可以用于测量弯扭等力学参数。
激光干涉仪：激光干涉仪是一种高精度的测量仪器，它可以通过测量激光束在被测物体表面上的反射光的干涉条纹来测量物体的位移、变形等参数。激光干涉仪可以用于测量弯扭等力学参数。
三维扫描仪：三维扫描仪是一种用于测量物体三维形状的仪器。它可以通过扫描物体表面，获取物体的三维点云数据，从而重建出物体的三维形状。三维扫描仪可以用于测量弯扭等力学参数。
