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外延生长检测仪器

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文章概述:外延生长检测通常会用到以下仪器:
1. 光学显微镜:用于观察外延层的表面形貌和晶体结构。
2. X 射线衍射仪:用于分析外延层的晶体结构和取向。
3. 扫描电子显微镜:用于观察外延层

外延生长检测通常会用到以下仪器:

1. 光学显微镜:用于观察外延层的表面形貌和晶体结构。

2. X 射线衍射仪:用于分析外延层的晶体结构和取向。

3. 扫描电子显微镜:用于观察外延层的表面形貌和微观结构。

4. 原子力显微镜:用于测量外延层的表面粗糙度和微观形貌。

5. 拉曼光谱仪:用于分析外延层的化学成分和结构。

6. 光致发光谱仪:用于测量外延层的发光性能和缺陷密度。

7. 霍尔效应测试仪:用于测量外延层的电学性能,如载流子浓度和迁移率。

8. 电容-电压测试仪:用于测量外延层的电学性能,如电容和电压。

9. 四探针测试仪:用于测量外延层的电阻率和方块电阻。

10. 热重分析测试仪:用于分析外延层的热稳定性和成分。

外延生长检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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