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外延隔离检测仪器

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文章概述:外延隔离检测是指对外延层与衬底之间的隔离效果进行检测,以确保外延层的质量和性能。外延隔离检测通常使用以下仪器:
1. 扫描电子显微镜(SEM):用于观察外延层的表面形貌和结构,以

外延隔离检测是指对外延层与衬底之间的隔离效果进行检测,以确保外延层的质量和性能。外延隔离检测通常使用以下仪器:

1. 扫描电子显微镜(SEM):用于观察外延层的表面形貌和结构,以及检测外延层与衬底之间的界面质量。

2. 原子力显微镜(AFM):用于测量外延层的表面粗糙度和厚度,以及检测外延层与衬底之间的界面平整度。

3. 拉曼光谱仪(Raman spectrometer):用于检测外延层的晶体结构和化学成分,以及检测外延层与衬底之间的界面化学键。

4. 光致发光光谱仪(PL spectrometer):用于检测外延层的发光性能和量子效率,以及检测外延层与衬底之间的界面缺陷。

5. 霍尔效应测试仪(Hall effect tester):用于测量外延层的电学性能,如电阻率、载流子浓度和迁移率等,以及检测外延层与衬底之间的界面电学特性。

6. 电容-电压测试仪(C-V tester):用于测量外延层的电容-电压特性,以及检测外延层与衬底之间的界面电学特性。

7. 热重分析(TGA):用于检测外延层的热稳定性和热分解行为,以及检测外延层与衬底之间的界面热稳定性。

8. 差示扫描量热仪(DSC):用于测量外延层的热转变温度和热焓变化,以及检测外延层与衬底之间的界面热稳定性。

9. X 射线衍射仪(XRD):用于检测外延层的晶体结构和取向,以及检测外延层与衬底之间的界面晶体结构。

10. 透射电子显微镜(TEM):用于观察外延层的微观结构和晶体缺陷,以及检测外延层与衬底之间的界面微观结构。

外延隔离检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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