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外形图检测仪器

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文章概述:三坐标测量仪:用于测量物体的三维坐标尺寸、形状和位置公差等。
投影仪:用于将物体的外形投影到屏幕上,进行测量和比较。
影像测量仪:通过影像技术对物体的外形进行非接触式测量

三坐标测量仪:用于测量物体的三维坐标尺寸、形状和位置公差等。

投影仪:用于将物体的外形投影到屏幕上,进行测量和比较。

影像测量仪:通过影像技术对物体的外形进行非接触式测量。

卡尺:用于测量物体的长度、宽度、高度等尺寸。

千分尺:用于测量物体的微小尺寸,如直径、厚度等。

高度规:用于测量物体的高度和深度。

角度尺:用于测量物体的角度。

轮廓仪:用于测量物体的轮廓形状和表面粗糙度。

粗糙度仪:用于测量物体表面的粗糙度。

圆度仪:用于测量圆形物体的圆度误差。

圆柱度仪:用于测量圆柱形物体的圆柱度误差。

直线度仪:用于测量物体的直线度误差。

平面度仪:用于测量物体表面的平面度误差。

平行度仪:用于测量物体之间的平行度误差。

垂直度仪:用于测量物体之间的垂直度误差。

跳动仪:用于测量物体的跳动误差。

外形图检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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