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外壳占有检测仪器

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文章概述:X 射线检测仪:可检测物体内部结构和缺陷。
超声波检测仪:用于检测物体的厚度、缺陷和内部结构。
激光扫描仪:可获取物体的三维形状和表面信息。
热成像仪:用于检测物体表面的温

X 射线检测仪:可检测物体内部结构和缺陷。

超声波检测仪:用于检测物体的厚度、缺陷和内部结构。

激光扫描仪:可获取物体的三维形状和表面信息。

热成像仪:用于检测物体表面的温度分布。

光谱分析仪:可分析物体的化学成分。

硬度计:用于测量物体的硬度。

粗糙度仪:用于测量物体表面的粗糙度。

电子显微镜:可观察物体的微观结构。

磁力检测仪:用于检测物体的磁性。

色差仪:用于测量物体的颜色差异。

外壳占有检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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