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文章概述：X 射线吸收精细结构谱（XAFS）：可用于确定外配位层的原子种类、数量和距离等信息。
扩展 X 射线吸收精细结构谱（EXAFS）：用于研究外配位层中原子的近邻结构。
X 射线光电子能谱（XPS）：可
X 射线吸收精细结构谱（XAFS）：可用于确定外配位层的原子种类、数量和距离等信息。
扩展 X 射线吸收精细结构谱（EXAFS）：用于研究外配位层中原子的近邻结构。
X 射线光电子能谱（XPS）：可以提供外配位层元素的化学状态和化学键信息。
傅里叶变换红外光谱（FTIR）：用于检测外配位层中官能团的存在和变化。
核磁共振（NMR）：可提供外配位层中原子的化学环境和分子结构信息。
