位向无序检测通常用于评估材料或结构中原子或分子的排列方式。

X 射线衍射（XRD）分析：通过测量材料对 X 射线的衍射图案来确定原子的排列和晶体结构。

电子衍射（ED）分析：利用电子束与材料相互作用产生的衍射图案来研究原子排列。

中子衍射（ND）分析：通过中子与原子核的相互作用来确定原子的位置和排列。

扫描电子显微镜（SEM）观察：用于观察材料表面的微观结构和形貌。

透射电子显微镜（TEM）观察：提供高分辨率的原子级结构信息。

原子力显微镜（AFM）观察：可以直接测量表面原子的排列和高度。

拉曼光谱分析：通过测量材料对激光的散射光谱来研究分子的振动和结构。

红外光谱分析：用于分析分子的化学键和官能团。

核磁共振（NMR）分析：提供关于分子结构和化学环境的信息。

穆斯堡尔谱分析：研究原子核与周围环境的相互作用。

热分析技术：如差示扫描量热法（DSC）和热重分析（TGA），用于研究材料的热性能和相变。

电阻率测量：评估材料的电导性能，间接反映原子排列的有序程度。

磁化率测量：检测材料的磁性，与原子的排列有关。

光学显微镜观察：用于观察材料的宏观结构和缺陷。

荧光光谱分析：通过测量材料的荧光发射光谱来研究分子的结构和环境。

穆斯堡尔效应测量：用于研究材料中的铁磁性和反铁磁性。

正电子湮没谱分析：探测材料中的缺陷和空位。

小角 X 射线散射（SAXS）分析：研究材料中的纳米级结构和颗粒分布。

小角中子散射（SANS）分析：提供关于材料微观结构的信息。

扩展 X 射线吸收精细结构（EXAFS）分析：研究原子周围的局部结构。

电子顺磁共振（EPR）分析：检测材料中的未成对电子。

光电子能谱（XPS）分析：提供关于材料表面化学成分和电子结构的信息。

俄歇电子能谱（AES）分析：用于表面成分分析和元素深度分布。

二次离子质谱（SIMS）分析：检测材料表面的微量成分和杂质。

离子散射谱（ISS）分析：研究材料表面的原子组成和结构。

原子探针断层扫描（APT）分析：提供原子级别的三维结构信息。

激光拉曼光谱成像：实现对材料结构的空间分布成像。

X 射线荧光光谱（XRF）分析：用于元素分析和成分测定。

激光诱导击穿光谱（LIBS）分析：快速检测材料中的元素组成。

原位检测技术：在实际应用条件下进行实时监测和分析。