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文章概述：电子背散射衍射（EBSD）：用于分析晶体结构和取向。
X 射线衍射（XRD）：可确定晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜（SEM）：观察微观结构和形貌。
原子力显微镜（AFM）：提供表面形貌和粗糙度信息。
电子背散射衍射（EBSD）：用于分析晶体结构和取向。
X 射线衍射（XRD）：可确定晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜（SEM）：观察微观结构和形貌。
原子力显微镜（AFM）：提供表面形貌和粗糙度信息。
透射电子显微镜（TEM）：用于高分辨率的微观结构分析。
