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突出面检测仪器

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文章概述:表面粗糙度仪:用于测量表面粗糙度,可检测平面、曲面等各种形状的表面。
三维形貌测量仪:可以对物体的三维形貌进行测量和分析,包括高度、坡度、曲率等参数。
激光干涉仪:用于测量

表面粗糙度仪:用于测量表面粗糙度,可检测平面、曲面等各种形状的表面。

三维形貌测量仪:可以对物体的三维形貌进行测量和分析,包括高度、坡度、曲率等参数。

激光干涉仪:用于测量物体的平整度和直线度,精度高,可检测微小的突出面。

光学显微镜:可用于观察物体的微观结构,包括表面的瑕疵、裂纹等。

扫描电子显微镜:能够提供高分辨率的表面图像,可用于检测微小的突出面和表面缺陷。

X 射线衍射仪:用于分析物体的晶体结构,可检测表面的晶体取向和缺陷。

超声波检测仪:可检测物体内部的缺陷和不均匀性,包括突出面、空洞等。

硬度计:用于测量物体的硬度,可间接反映表面的突出程度。

色差仪:用于测量物体表面的颜色差异,可检测突出面对颜色的影响。

突出面检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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