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文章概述：1. 静态气体吸附仪（BET仪）：常用于测定材料的比表面积，通过吸附分子在材料表面上的吸附程度来评估材料的孔隙结构和表面活性。
2. X射线衍射仪（XRD仪）：用于分析材料的晶体结构和晶体
1. 静态气体吸附仪（BET仪）：常用于测定材料的比表面积，通过吸附分子在材料表面上的吸附程度来评估材料的孔隙结构和表面活性。
2. X射线衍射仪（XRD仪）：用于分析材料的晶体结构和晶体学性质，可以确定材料的晶体相、晶胞参数和晶体取向。
3. 扫描电子显微镜（SEM）：通过扫描材料表面，并利用电子束与材料相互作用产生的信号来分析材料的形貌、成分和元素分布。
4. 透射电子显微镜（TEM）：通过透射电子束和样品的相互作用，获得样品非晶态、微观结构等信息。
5. 原子力显微镜（AFM）：利用探针在样品表面的探测力和位移来获取样品的形貌、表面粗糙度和表面特征。
6. 热重分析仪（TGA）：测量材料随温度升高或降低时质量的变化，用于分析材料的热稳定性、热降解动力学和含水量等。
7. 红外光谱仪（IR）：通过材料对红外辐射的吸收和散射来分析材料的化学结构和功能基团。
