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离轴全息术检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:离轴全息术检测是一种基于激光干涉原理的高精度无损检测技术,主要用于材料表面形貌、内部缺陷及动态形变的定量分析。其核心在于通过离轴光路分离物光与参考光,结合数字图像处理技术获取三维信息。检测要点包括波前畸变控制、干涉条纹稳定性、系统分辨率校准及环境振动抑制等参数。

检测项目

波前畸变精度:λ/20(λ=632.8nm)

空间分辨率:≤1.5μm@10×物镜

干涉条纹对比度:≥85%

光路稳定性误差:≤λ/30/小时

样品位移灵敏度:0.1μm级三维测量

检测范围

光学玻璃元件(透镜/棱镜/窗口片)

金属基复合材料(CFRP/GFRP层压板)

高分子薄膜(PET/PC/PMMA)

半导体晶圆(硅片/砷化镓基板)

生物组织样本(角膜/皮肤切片)

检测方法

ASTM E1819-20:全息干涉测量法测定材料应变

ISO 13696:2022:光学元件表面形貌测试规范

GB/T 13962-2021:光学全息检测通用技术要求

ISO 25178-604:2023:非接触式表面形貌测量系统校准

GB/T 38823-2020:激光数字全息检测方法

检测设备

Zygo Verifire MST干涉仪:配置633nm He-Ne激光源,4MP科学级CCD

Keysight 5500系列激光干涉仪:支持双波长(532nm/1064nm)工作模式

Olympus LEXT OLS5000激光共聚焦显微镜:集成405nm激光器与纳米运动平台

4D Technology PhaseCam 6000动态干涉仪:100Hz高速采集速率

Thorlabs HNL210L-EC He-Ne激光系统:功率稳定性±0.5%/8小时

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

离轴全息术检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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