相似矩阵检测
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文章概述:检测项目1.元素组成分析:使用X射线荧光光谱法(XRF)测定材料中C、Si、Fe等元素含量偏差(0.3%以内)。2.晶体结构比对:通过X射线衍射(XRD)分析晶格常数误差范围(0.02)及相纯度(≥99.5%)。3.热稳定性测试:采用差示扫描量热法(DSC)测量玻璃化转变温度(Tg)偏差不超过1.5℃。4.力学性能验证:依据三点弯曲试验获取弹性模量(E)差异阈值≤5%,屈服强度波动范围3%。5.表面形貌表征:原子力显微镜(AFM)扫描表面粗糙度Ra值允差0.05μm。检测范围1.金属合金:包括铝合金(AA
检测项目
1.元素组成分析:使用X射线荧光光谱法(XRF)测定材料中C、Si、Fe等元素含量偏差(0.3%以内)。
2.晶体结构比对:通过X射线衍射(XRD)分析晶格常数误差范围(0.02)及相纯度(≥99.5%)。
3.热稳定性测试:采用差示扫描量热法(DSC)测量玻璃化转变温度(Tg)偏差不超过1.5℃。
4.力学性能验证:依据三点弯曲试验获取弹性模量(E)差异阈值≤5%,屈服强度波动范围3%。
5.表面形貌表征:原子力显微镜(AFM)扫描表面粗糙度Ra值允差0.05μm。
检测范围
1.金属合金:包括铝合金(AA6061-T6)、钛合金(Ti-6Al-4V)等铸造/锻造制品。
2.高分子材料:涵盖聚乙烯(HDPE/LDPE)、聚碳酸酯(PC)等注塑成型件。
3.陶瓷材料:氧化铝(Al₂O₃)、氮化硅(Si₃N₄)等烧结体及涂层。
4.复合材料:碳纤维增强环氧树脂(CFRP)、玻璃纤维聚丙烯(GF-PP)层压板。
5.电子材料:硅基半导体晶圆(Φ200mm)、ITO导电玻璃等光电元件。
检测方法
1.ASTME1251-22《火花原子发射光谱法测定金属元素》
2.ISO14706:2014《表面化学分析-全反射X射线荧光光谱法》
3.GB/T8362-2021《金属材料X射线衍射残余应力测定方法》
4.ASTMD3418-21《聚合物相变温度差示扫描量热法》
5.GB/T4340.1-2009《金属维氏硬度试验第1部分:试验方法》
检测设备
1.X射线荧光光谱仪(XRF-2000):实现ppm级元素定量分析,配备Rh靶光源。
2.X射线衍射仪(D8ADVANCE):配备LynxEye阵列探测器,角度分辨率0.0001。
3.场发射扫描电镜(SU5000):最大放大倍数100万,EDAX能谱附件。
4.动态热机械分析仪(DMAQ800):温度范围-150~600℃,频率0.01~200Hz。
5.万能材料试验机(Instron5985):最大载荷100kN,精度等级0.5级。
6.原子力显微镜(DimensionIcon):扫描范围90μm90μm,Z轴分辨率0.1nm。
7.红外光谱仪(NicoletiS50):光谱范围7800~350cm⁻,DTGS检测器。
8.激光粒度分析仪(Mastersizer3000):测量范围0.01~3500μm,湿法/干法双模式。
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。