检测项目

1.频率响应测试：测量0.5-40GHz范围内增益平坦度（1dB）与带宽偏差（≤3%）2.功率容量验证：峰值功率10kW（脉宽1μs）下的器件耐受性测试3.噪声系数分析：0.1-18GHz频段内噪声系数测量精度0.2dB4.驻波比检测：VSWR≤1.5:1的匹配特性验证5.相位稳定性测试：-40℃至+85℃温变条件下相位漂移≤5

检测范围

1.微波半导体器件：GaNHEMT、SiC二极管等宽禁带材料器件2.射频电路基板：RogersRO4003C、TaconicRF-35等高频层压板3.天线组件：微带阵列天线、波导缝隙天线及相控阵单元4.波导元件：WR90/WR75标准波导的截止频率与衰减系数5.微波滤波器：腔体滤波器与LTCC滤波器的带外抑制（≥60dB）

检测方法

1.ASTMD5568-22《高频电路基材介电常数测试规范》2.ISO/IEC17025:2017《电磁兼容实验室能力要求》3.GB/T11461-2020《微波半导体器件测试方法》4.MIL-STD-883JMethod3015《微波器件功率耐受试验》5.GB/T17626.3-2023《射频电磁场辐射抗扰度试验》

检测设备

1.KeysightPNA-XN5247A矢量网络分析仪：支持110GHz频段S参数测量2.Rohde&SchwarzFSW67频谱分析仪：67GHz实时带宽与-172dBm灵敏度3.KeysightN8976A噪声系数分析仪：26.5GHz频段ENR校准功能4.AnritsuMA24708A介质谐振器套件：10MHz-50GHz介电常数测试5.ThermotronSM-32-10温箱：-70℃至+180℃快速温变系统6.ARRF/MicrowaveT8G5000功率放大器：8kW脉冲功率输出能力7.NSI-MI近场扫描系统：平面/球面近场天线方向图测量8.Agilent85052D校准件组：3.5mm接口至110GHz全频段校准9.FlukePM6685铷钟频率计：12位/秒分辨率时基稳定度10.TektronixDPO73304S示波器：33GHz带宽信号完整性分析

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。