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红外热探测器检测

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文章概述:检测项目1.响应时间:测量探测器从接收到辐射信号到输出稳定值的延迟时间,典型测试范围10ns-10ms2.探测率(D*):评估单位面积和带宽下的信噪比性能,单位cmHz1/2/W,常规测试值108-10123.噪声等效功率(NEP):表征最小可探测辐射功率量级,测试精度达10-12W/Hz1/24.工作波长范围:验证8-14μm波段响应均匀性及截止波长偏差5.温度分辨率:测定最小可识别温差值(NETD),典型指标≤50mK@300K检测范围1.金属基非制冷型微测辐射热计2.氧化钒/非晶硅薄膜型焦平面阵列3

检测项目

1.响应时间:测量探测器从接收到辐射信号到输出稳定值的延迟时间,典型测试范围10ns-10ms2.探测率(D*):评估单位面积和带宽下的信噪比性能,单位cmHz1/2/W,常规测试值108-10123.噪声等效功率(NEP):表征最小可探测辐射功率量级,测试精度达10-12W/Hz1/24.工作波长范围:验证8-14μm波段响应均匀性及截止波长偏差5.温度分辨率:测定最小可识别温差值(NETD),典型指标≤50mK@300K

检测范围

1.金属基非制冷型微测辐射热计2.氧化钒/非晶硅薄膜型焦平面阵列3.热电堆式红外传感器4.量子阱红外光电探测器(QWIP)5.超导转变边缘传感器(TES)

检测方法

1.ASTME1256-17:红外测温仪校准与性能验证标准方法2.ISO18434-1:2008:设备状态监测的红外热成像规范3.GB/T13543-2020:半导体器件分立器件测试方法4.IEC62676-2-3:2013:视频监控系统热成像性能要求5.GJB7369-2011:军用红外焦平面阵列参数测试方法

检测设备

1.FLIRT1030sc:高分辨率红外热像仪(1024768像素),用于温度分布测试2.AgilentB1500A:半导体参数分析仪(100fA分辨率),测量I-V特性曲线3.OrielCS2601/4m单色仪:波长精度0.2nm,光谱响应标定系统4.Keithley6221:精密电流源(100pA分辨率),噪声等效功率测试5.LabsphereURS-1000D:扩展辐射源(黑体温度范围-40℃~550℃)6.ThermoScientificNicoletiS50:傅里叶变换红外光谱仪(光谱范围0.26-25μm)7.KeysightN6705C:直流电源分析仪(20V/3A输出),功耗特性测试8.BrukerDimensionIcon:原子力显微镜(0.25nm分辨率),表面形貌分析9.ESPECSH-642:温湿度循环试验箱(-70℃~+150℃),环境适应性验证10.OphirVega激光功率计(30mW-300W),辐射功率标定系统

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

红外热探测器检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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