检测项目

1.纯度分析：采用气相色谱法测定主成分含量（≥99.5%），识别C5H12Si同分异构体2.水分含量：卡尔费休法测定游离水（≤50ppm），库仑法检测结合水3.金属杂质：ICP-MS测定Fe、Al、Cu等痕量金属（＜0.1ppm）4.挥发性有机物：GC-MS分析甲苯、二甲苯等残留溶剂（≤100ppm）5.热稳定性测试：DSC法测定分解温度（≥180℃），TGA法分析失重曲线

检测范围

1.半导体前驱体材料：用于CVD沉积工艺的电子级环戊硅烷2.有机合成中间体：含硅高分子材料的合成原料3.光伏材料：薄膜太阳能电池用高纯硅源4.特种涂料：耐高温有机硅树脂原料5.医药原料：药物载体合成用功能化硅烷

检测方法

1.ASTME1687-19《气相色谱法测定有机硅化合物纯度》2.ISO12937:2000《石油产品-水含量的测定-卡尔费休库仑法》3.GB/T30305-2013《电子工业用气体中金属杂质的测定》4.GB/T23966-2009《工业用环戊硅烷》5.ISO11358-1:2022《塑料-聚合物的热重分析法》6.ASTME2403-23《有机化合物的差示扫描量热法》

检测设备

1.Agilent8890气相色谱仪：配备FID检测器及DB-5毛细管柱（30m0.32mm0.25μm）2.Metrohm917Coulometer库仑法水分仪：分辨率0.1μgH2O3.PerkinElmerNexION5000ICP-MS：检出限达ppt级4.MettlerToledoTGA/DSC3+同步热分析仪：温度范围25-1600℃5.ShimadzuGCMS-QP2020NX：EI源质谱扫描范围m/z10-11006.Metrohm851Titrando自动电位滴定仪：pH分辨率0.0017.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm8.BrukerAvanceIIIHD600MHz核磁共振仪：19F/29Si多核检测能力9.ThermoScientificiCAPRQICP-OES：轴向观测等离子体发射光谱10.AntonPaarDMA5000密度计：精度0.000005g/cm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。