检测项目

物相鉴定：

• 矿物相识别：衍射峰位置（2θ±0.02°，参照ICDD PDF-4+）
• 物相匹配：数据库索引号（PDF编号≥90%）
• 非晶相检测：散射背景强度比（≤5%）

晶体结构分析：

• 晶格参数测定：a,b,c值（精度±0.001Å）
• 空间群确认：对称性指标（空间群编号）
• 晶系分类：立方/六方等（参照国际晶体学表）

定量分析：

• 相含量计算：Rietveld法（误差<2%）
• 矿物丰度测定：重量百分比（0.1%-100%）
• 元素分布：结合EDS数据（检测限0.01wt%）

晶粒尺寸测定：

• 谢乐方程应用：尺寸范围10nm-100μm
• 微应变分析：应变值ε（±0.0001）
• 晶界效应：峰宽比（FWHM≤0.1°）

残余应力分析：

• 应力值计算：sin²ψ法（范围0-1000MPa）
• 应力梯度：深度剖面（步长10μm）
• 弹性常数：杨氏模量（参照ASTM E1426）

取向分析：

• 极图绘制：织构系数（TC≥0.8）
• 晶向分布：欧拉角（精度±1°）
• 择优取向：极密度（最大/最小比）

薄膜分析：

• 薄膜厚度测定：掠入射XRD（GI-XRD，角度0.5°-5°）
• 界面分析：层间距离（精度±0.1nm）
• 薄膜结晶度：结晶指数CI（0-1标度）

矿物成分分析：

• 主要矿物识别：石英/长石含量（wt%偏差±0.5）
• 粘土矿物分类：高岭石/蒙脱石比（参照ISO 13320）
• 杂质检测：痕量元素（检测限0.001%）

结晶度测定：

• 结晶度指数：CI值（计算法，范围0-100）
• 非晶含量：背景积分比（≤10%）
• 晶体缺陷：位错密度（位错/cm²）

晶体缺陷分析：

• 位错密度估算：威廉姆森-霍尔图（误差±5%）
• 堆垛层错：峰位移（δ2θ≤0.01°）
• 空位分析：强度比变化（参照JCPDS标准）

检测范围

1. 火成岩：涵盖花岗岩和玄武岩等，重点检测长石和石英物相组成及晶粒尺寸分布。

2. 沉积岩：包括砂岩和石灰岩，侧重分析石英含量、粘土矿物定量及微应变效应。

3. 变质岩：如片麻岩和大理石，检测云母晶体结构、残余应力和矿物转变过程。

4. 矿物单晶：如石英和方解石，聚焦晶体参数精确测定、空间群验证及缺陷分析。

5. 土壤样品：涉及粘土和高岭石，重点检测矿物丰度、结晶度及元素分布关联。

6. 矿石样品：如赤铁矿和铜矿石，侧重铁/铜相含量、晶格参数及应力腐蚀影响。

7. 火山灰：包括玻璃相和火山岩，检测非晶相比例、晶粒尺寸及成分均匀性。

8. 化石样品：如方解石化石，聚焦物相识别、晶体缺陷及保存状态分析。

9. 地质钻芯：涵盖全岩样本，重点检测矿物定量、取向分布及钻探影响评估。

10. 人工合成地质材料：如模拟矿物，侧重合成过程验证、晶体结构一致性及缺陷控制。

检测方法

国际标准：

• ISO 16127:2018 地质样品X射线衍射分析方法
• ASTM D3906-03(2019) 粘土矿物X射线衍射测试标准
• JCPDS 00-001-1000 衍射数据库参照标准

国家标准：

• GB/T 17412.1-2012 岩石矿物鉴定方法 X射线衍射法
• GB/T 18873-2008 矿物X射线衍射定量分析技术规范
• GB/T 13298-2015 金属材料显微组织检验方法（结合XRD部分）

方法差异说明：国际标准如ISO强调样品均匀性和全局数据库匹配，而国家标准如GB/T 17412更注重特定矿物分析步骤和本地化校准；ASTM方法通常使用更高角度分辨率（0.01°），GB标准则优化样品制备流程以减少背景噪声。

检测设备

1. X射线衍射仪：PANalytical Empyrean（Cu Kα辐射，2θ范围5°-140°，分辨率0.0001°）

2. 样品研磨机：Fritsch Pulverisette 7（粒度范围0.1-100μm，转速100-700rpm）

3. 压片机：Specac Atlas Manual Press（压力范围0-10吨，模具直径10mm）

4. 旋转样品台：用于织构分析（角度精度±0.001°，转速0.1-10rpm）

5. 低温附件：用于低温XRD（温度范围-196°C至室温，控制精度±0.1°C）

6. 高温附件：用于原位加热（温度范围室温-1600°C，加热速率0.1-10°C/min）

7. EDS探测器：结合XRD（元素检测限0.01wt%，能量分辨率<130eV）

8. 激光衍射粒度分析仪：Malvern Mastersizer 3000（粒度范围0.01-3500μm，精度±1%）

9. 真空系统：用于减少空气散射（真空度<10^{-3} mbar，泵速5L/s）

10. 数据采集软件：X'Pert HighScore Plus（数据库匹配率≥95%，自动报告生成）

11. 校准标准：硅粉标准样品（晶格参数5.4307Å，纯度99.999%）

12. 防辐射罩：铅屏蔽系统（辐射泄漏<0.5μSv/h）

13. 样品杯：铝制或玻璃（直径15mm，深度2mm）

14. 过滤系统：单色器（波长精度±0.0001nm，带宽0.02nm）

15. 冷却系统：水冷X射线管（温度控制±1°C，功率3kW）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。