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全光纤光子集成系统检测

检测项目

全光纤光子集成系统的检测主要包括以下核心项目:

光学性能检测:插入损耗、回波损耗、偏振相关损耗(PDL)、波长依赖性等参数测量

结构完整性检测:光纤熔接点质量、波导结构完整性、封装防护等级验证

环境可靠性检测:温度循环试验(-40℃~85℃)、湿度耐受测试(85%RH)、机械振动(20-2000Hz)及冲击试验

信号完整性检测:眼图分析、误码率测试、信噪比(SNR)及串扰检测

系统兼容性检测:多协议适配测试、多波长通道同步性验证

检测范围

检测覆盖全光纤光子集成系统的全生命周期:

组件级检测:单模/多模光纤、光耦合器、阵列波导光栅(AWG)、光子集成电路(PIC)

模块级验证:光收发模块、波长选择开关(WSS)、可调谐激光器组件

系统级测试:数据中心互连系统、5G前传网络、光纤传感网络、量子通信系统

应用场景覆盖:通信网络(100G~1.6T)、医疗光学设备、工业激光加工系统、航空航天光学系统

检测方法

光谱分析法:

使用高分辨率光谱仪(0.02nm)进行DWDM通道分析

采用可调谐激光源进行波长扫描测试

时域反射检测法:

光时域反射仪(OTDR)检测空间分辨率达10cm

相干光时域反射(C-OTDR)实现微应变检测

偏振分析法:

偏振态(SOP)实时监测系统

偏振模色散(PMD)统计分析法

数字信号分析法:

256Gbaud相干接收测试

PAM4/PAM8调制格式误码分析

检测仪器

仪器类型技术参数应用场景
光子集成电路测试仪波长范围:1260-1650nm

动态范围:60dB

PIC芯片特性分析
多通道光功率分析系统通道数:128通道

灵敏度:-90dBm

AWG器件测试
高速光采样示波器带宽:160GHz

采样率:256GSa/s

400G/800G眼图分析
量子效率测试系统波长精度:±0.1nm

响应度测量误差:±0.5%

单光子探测器校准

创新检测技术

采用机器学习算法实现:

1. 缺陷智能识别:基于卷积神经网络(CNN)的光纤端面缺陷分类

2. 故障预测系统:长短期记忆网络(LSTM)构建设备退化模型

3. 自动化测试系统:数字孪生技术实现测试流程优化

标准体系

IEC 61280-4-1 光纤通信子系统测试标准

Telcordia GR-468-CORE 可靠性验证规范

ITU-T G.654.E 超低损耗光纤特性标准

全光纤光子集成系统检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。