- By 中析研究所
- 2024-07-21 07:00:47
卡尺:用于测量长度、宽度、厚度等尺寸。
硬度计:检测材料的硬度。
拉力试验机:测试材料的拉伸强度。
冲击试验机:测定材料的冲击韧性。
表面粗糙度仪:测量表面粗糙度。
无损检测
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 07:00:38
位错蠕变检测通常用于研究材料在高温和应力作用下的变形行为。微观结构观察:使用电子显微镜等设备观察材料中的位错结构。位错密度测量:确定位错的数量和分布。蠕变应变测量:监
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 07:00:16
原子吸收光谱仪:用于检测金属元素的含量。
气相色谱仪:可分析有机化合物的组成和含量。
高效液相色谱仪:适用于分析各种有机化合物。
质谱仪:用于确定化合物的分子量和结构。
红
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:59:49
位错塞积检测通常涉及对材料中晶体缺陷的分析和评估。位错密度测定:通过各种技术测量位错的数量。塞积形态观察:使用显微镜等工具观察位错塞积的形态和分布。材料力学性能测试
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:59:06
位错塞群检测是对材料中位错塞群的存在、分布和特性进行检测和分析的过程。光学显微镜观察:通过显微镜观察材料表面的位错塞群。电子显微镜分析:利用电子显微镜获取更详细的位
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:58:49
X 射线衍射仪:用于分析物质的晶体结构和成分。
扫描电子显微镜:可以观察物质的表面形貌和微观结构。
原子力显微镜:用于检测物质的表面形貌和力学性质。
红外光谱仪:分析物质的
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:58:11
示波器:用于检测外部处理机的信号波形,包括电压、频率、相位等参数。
逻辑分析仪:用于检测外部处理机的数字信号,包括逻辑电平、时序等参数。
频谱分析仪:用于检测外部处理机的信
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:57:36
X 射线荧光光谱仪:用于检测物质的元素组成和含量。
扫描电子显微镜:可观察物质的表面形貌和微观结构。
红外光谱仪:用于分析物质的分子结构和化学键。
热重分析仪:测量物质在加
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