- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:35:23
电子天平:用于测量物体的质量。
分光光度计:用于测量物质对不同波长光的吸收程度。
气相色谱仪:用于分析气体和挥发性化合物。
高效液相色谱仪:用于分析液体中的化合物。
原子吸
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:32:55
目视检测:通过肉眼观察产品表面,检查是否存在缺陷,如划痕、裂纹、变形等。
放大镜检测:使用放大镜放大产品表面,更清晰地观察缺陷。
显微镜检测:使用显微镜观察产品表面的微观结构
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:30:11
示波器:用于观察和分析电信号的变化,可以检测中断信号的波形、频率和幅度等参数。
逻辑分析仪:能够同时监测多个数字信号,帮助分析中断信号的逻辑关系和时序。
信号发生器:可产生
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:28:37
位错阻塞检测是用于评估材料中位错运动受到阻碍的程度和原因的测试方法。位错密度测量:通过电子显微镜或 X 射线衍射等技术确定材料中的位错数量。位错形态观察:使用显微镜观
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:27:52
工业内窥镜:可检测表面缺陷、内部结构等。
三坐标测量仪:用于测量物体的三维尺寸和形状。
X 射线探伤仪:检测物体内部的缺陷。
超声波探伤仪:检测材料内部的缺陷和不均匀性。
渗
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:25:24
示波器:用于检测电子信号的波形和参数,可用于检测电路中的电压、电流、频率等信号。
多用表:可以测量电压、电流、电阻、电容等参数,用于检测电路中的故障和问题。
热像仪:通过检
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:22:48
外部引用检测可以使用静态分析工具。
静态分析工具可以对代码进行扫描,查找可能存在的外部引用。
它可以检测到代码中引用的外部库、模块或其他资源。
通过分析代码的结构和
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 06:20:04
超声波检测仪:用于检测外部支座的内部缺陷和损伤。
磁粉探伤仪:可检测外部支座表面的裂纹和缺陷。
硬度计:用于测量外部支座的硬度。
拉伸试验机:可对外部支座进行拉伸试验,检测
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