- By 中析研究所
- 2024-07-21 02:59:35
激光干涉仪:用于测量外斜轴系的直线度、角度偏差等几何参数。
三坐标测量机:可以对外斜轴系进行三维坐标测量,包括位置、形状和尺寸等。
影像测量仪:适用于对外斜轴系的表面特征
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 02:57:03
游标卡尺:用于测量物体的长度、宽度、高度等外形尺寸。
千分尺:可以精确测量物体的直径、厚度等尺寸。
影像测量仪:通过光学成像原理,对物体的外形进行非接触式测量。
三坐标测
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 02:54:12
轮廓仪:用于测量物体的轮廓形状和表面粗糙度。
三坐标测量机:可对物体进行三维测量,包括尺寸、形状、位置等。
投影仪:用于测量物体的轮廓、尺寸和形状等。
卡尺:常用于测量物体
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 02:51:23
硬度计:用于检测外牙接头的硬度。
粗糙度仪:测量外牙接头表面的粗糙度。
卡尺:对外牙接头的尺寸进行精确测量。
螺纹量规:检测外牙接头的螺纹尺寸和精度。
投影仪:用于检测外牙接
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 02:51:14
温度分布曲线检测是对物体或环境中温度分布情况的测量和分析。多点温度测量:使用多个温度传感器在不同位置进行测量。温度传感器校准:确保传感器的准确性。数据采集系统:记录温
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 02:48:51
X 射线衍射仪:用于分析外延层的晶体结构和取向。
扫描电子显微镜:可观察外延层的表面形貌和微观结构。
原子力显微镜:提供高分辨率的表面形貌图像。
二次离子质谱仪:用于分析外
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 02:45:56
X 射线衍射仪:用于分析外延硅的晶体结构和晶格参数。
扫描电子显微镜:可以观察外延硅的表面形貌和微观结构。
原子力显微镜:用于测量外延硅的表面粗糙度和微观形貌。
霍尔效应
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- By 中析研究所
- 2024-07-21 02:43:05
X 射线衍射仪:用于分析外延层的晶体结构和取向。
扫描电子显微镜:可以观察外延层的表面形貌和微观结构。
原子力显微镜:用于测量外延层的表面粗糙度和形貌。
光致发光谱仪:检测
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