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铜比检测

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文章概述:检测项目1.铜含量测定:采用化学滴定法或光谱法测定总铜含量(范围0.01%-99.99%)。2.杂质元素分析:检测铅、铁、锌、砷等杂质元素(检出限0.001%-0.1%)。3.电导率测试:测量20℃时导电率值(单位MS/m)。4.硬度测试:维氏硬度HV0.3-HV10范围测定。5.晶粒度评级:依据ASTME112标准评定1-12级晶粒度。检测范围1.铜合金材料:包括黄铜(Cu-Zn)、青铜(Cu-Sn)等铸造/变形合金。2.电子元器件:PCB覆铜板、连接器触点等含铜部件。3.电力设备:变压器绕组、母线排等

检测项目

1.铜含量测定:采用化学滴定法或光谱法测定总铜含量(范围0.01%-99.99%)。2.杂质元素分析:检测铅、铁、锌、砷等杂质元素(检出限0.001%-0.1%)。3.电导率测试:测量20℃时导电率值(单位MS/m)。4.硬度测试:维氏硬度HV0.3-HV10范围测定。5.晶粒度评级:依据ASTME112标准评定1-12级晶粒度。

检测范围

1.铜合金材料:包括黄铜(Cu-Zn)、青铜(Cu-Sn)等铸造/变形合金。2.电子元器件:PCB覆铜板、连接器触点等含铜部件。3.电力设备:变压器绕组、母线排等导电部件。4.金属镀层:钢铁基体镀铜层厚度及成分分析。5.再生金属:废杂铜回收料的纯度分级检测。

检测方法

1.ASTME53-2018《铜的化学分析方法》2.ISO11876:2010《硬质合金中钴、铁的测定》3.GB/T5121.1-2008《铜及铜合金化学分析方法》系列标准4.ASTMB193-2016《导电材料电阻率测试》5.GB/T4340.1-2009《金属材料维氏硬度试验》

检测设备

1.电感耦合等离子体光谱仪(ICP-OES):PerkinElmerOptima8300型,用于痕量元素分析2.X射线荧光光谱仪:ThermoFisherARLPERFORM'X,实现无损成分快速筛查3.电导率测试仪:Sigmatest2.068型,测量范围1-110%IACS4.维氏硬度计:WilsonVH1150自动型,载荷范围10gf-50kgf5.金相显微镜:OlympusGX53倒置式,配备晶粒度分析模块6.原子吸收光谱仪:Agilent240ZGFAA石墨炉型7.万能材料试验机:Instron5985型,精度等级0.5级8.扫描电子显微镜:HitachiSU5000场发射型,配备EDS能谱仪9.电解测厚仪:FischerMP0R涡流式镀层测厚仪10.热分析系统:NETZSCHSTA449F3同步热分析仪

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

铜比检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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