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离子源狭缝检测

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文章概述:检测项目1.狭缝宽度误差检测:测量范围0.1-500μm,精度0.05μm2.平行度偏差分析:最大允许偏差0.3μm/100mm3.表面粗糙度测试:Ra值检测下限0.01μm4.材料成分分析:元素含量检测精度达ppm级5.耐腐蚀性评估:ASTMG59标准下极化曲线测试检测范围1.金属合金狭缝组件(钨铜合金/钛合金)2.陶瓷基复合狭缝(氧化铝/氮化硅)3.半导体晶圆加工用硅基狭缝4.高分子聚合物精密狭缝(PEEK/PTFE)5.镀膜处理金属狭缝(金镀层/类金刚石涂层)检测方法1.ASTME112-13晶粒度

检测项目

1.狭缝宽度误差检测:测量范围0.1-500μm,精度0.05μm2.平行度偏差分析:最大允许偏差0.3μm/100mm3.表面粗糙度测试:Ra值检测下限0.01μm4.材料成分分析:元素含量检测精度达ppm级5.耐腐蚀性评估:ASTMG59标准下极化曲线测试

检测范围

1.金属合金狭缝组件(钨铜合金/钛合金)2.陶瓷基复合狭缝(氧化铝/氮化硅)3.半导体晶圆加工用硅基狭缝4.高分子聚合物精密狭缝(PEEK/PTFE)5.镀膜处理金属狭缝(金镀层/类金刚石涂层)

检测方法

1.ASTME112-13晶粒度测定法2.ISO4287:1997表面粗糙度轮廓法3.GB/T1800.1-2020产品几何技术规范(GPS)4.ISO1463:2003金属镀层厚度测量法5.GB/T10125-2021人造气氛腐蚀试验

检测设备

1.HitachiSU5000场发射扫描电镜:分辨率0.8nm@15kV2.TaylorHobsonFormTalysurfi120轮廓仪:垂直分辨率0.1nm3.HexagonGlobalClassic三坐标测量机:空间精度(1.9+L/250)μm4.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪:角度重复性0.00015.Keysight5500原子力显微镜:Z轴分辨率0.01nm6.ThermoScientificiCAPRQICP-MS:检出限≤ppt级7.ZEISSAxioImagerA2m金相显微镜:最大放大倍数15008.ShimadzuHMV-G21显微硬度计:载荷范围10gf-2kgf9.Agilent6890N气相色谱仪:保留时间重复性RSD<0.05%10.MTSC45万能材料试验机:载荷精度0.5%FS

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

离子源狭缝检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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