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双谱分光双星检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:检测项目1.光谱分辨率:测量范围为0.1nm至0.5nm,采用全波段扫描模式。2.波长精度校准:误差限值0.2nm(200-2500nm波段)。3.信噪比分析:动态范围≥60dB(积分时间1-100ms可调)。4.双通道同步性:偏差≤1%(波长重复性测试)。5.吸光度线性度:R≥0.999(标准溶液系列测试)。检测范围1.光学玻璃:包括BK7、熔融石英等材料的透射/反射特性分析。2.半导体材料:GaAs、InP等III-V族化合物的带隙测量。3.薄膜涂层:AR膜、ITO导电膜的厚度与折射率测定。4.荧光物

检测项目

1.光谱分辨率:测量范围为0.1nm至0.5nm,采用全波段扫描模式。

2.波长精度校准:误差限值0.2nm(200-2500nm波段)。

3.信噪比分析:动态范围≥60dB(积分时间1-100ms可调)。

4.双通道同步性:偏差≤1%(波长重复性测试)。

5.吸光度线性度:R≥0.999(标准溶液系列测试)。

检测范围

1.光学玻璃:包括BK7、熔融石英等材料的透射/反射特性分析。

2.半导体材料:GaAs、InP等III-V族化合物的带隙测量。

3.薄膜涂层:AR膜、ITO导电膜的厚度与折射率测定。

4.荧光物质:量子点材料的激发/发射光谱表征。

5.激光晶体:Nd:YAG、钛宝石晶体的吸收截面测试。

检测方法

ASTME275-08(2017):紫外-可见分光光度法标准实践规范。

ISO13468-1:2019:塑料透明材料透光率测定方法。

GB/T26824-2021:纳米材料紫外-可见漫反射光谱测试通则。

ISO14707:2015:辉光放电光谱法表面分析通则。

GB/T33395-2016:光学功能薄膜近红外吸收性能测试方法。

检测设备

1.PerkinElmerLambda1050+:紫外可见近红外分光光度计(190-3300nm)

2.ThermoScientificNicoletiS50:傅里叶变换红外光谱仪(7800-350cm⁻)

3.AgilentCary7000UMS:全自动多功能分光光度系统

4.OceanInsightHR4000CG-UV-NIR:高分辨率光纤光谱仪(200-1100nm)

5.ShimadzuUV-3600iPlus:三探测器分光光度计(185-3300nm)

6.BrukerVERTEX80v:真空型傅里叶变换红外光谱仪

7.JASCOV-770:双光束紫外可见分光光度计

8.HoribaFluorolog-QM:稳态/瞬态荧光光谱仪

9.AvantesAvaSpec-ULS2048CL-EVO:高速紫外可见光谱仪

10.ZolixOmni-λ300i:全自动荧光发光光谱测试系统

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

双谱分光双星检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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