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基底沟检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:检测项目1.沟槽宽度测量:精度0.01mm,测量范围0.1-5.0mm2.深度公差检测:分辨率0.1μm,允许偏差2%3.侧壁倾斜角分析:角度范围30-90,误差≤0.54.表面粗糙度评定:Ra值0.05-6.3μm,符合ISO4287标准5.边缘直线度检验:每100mm偏差≤15μm检测范围1.金属材料:钛合金/铝合金精密加工件2.高分子复合材料:PCB基板/微流控芯片3.陶瓷基材:半导体晶圆切割槽4.混凝土结构:建筑伸缩缝预制槽5.电子元件封装材料:BGA焊盘定位槽检测方法1.接触式测量:GB/T18

检测项目

1.沟槽宽度测量:精度0.01mm,测量范围0.1-5.0mm2.深度公差检测:分辨率0.1μm,允许偏差2%3.侧壁倾斜角分析:角度范围30-90,误差≤0.54.表面粗糙度评定:Ra值0.05-6.3μm,符合ISO4287标准5.边缘直线度检验:每100mm偏差≤15μm

检测范围

1.金属材料:钛合金/铝合金精密加工件2.高分子复合材料:PCB基板/微流控芯片3.陶瓷基材:半导体晶圆切割槽4.混凝土结构:建筑伸缩缝预制槽5.电子元件封装材料:BGA焊盘定位槽

检测方法

1.接触式测量:GB/T18777-2009轮廓法表面结构测量规范2.白光干涉法:ISO25178-602非接触式三维形貌测量3.激光扫描技术:ASTME2544-11a三维成像系统校准标准4.显微成像分析:GB/T10610-2009产品几何技术规范(GPS)5.超声波测厚:GB/T11344-2021承压设备无损检测规程

检测设备

1.MitutoyoCRYSTA-ApexS系列三坐标测量机(三维形貌重建)2.KeyenceLJ-V7000激光轮廓仪(非接触式高速扫描)3.BrukerContourGT-X3白光干涉仪(纳米级粗糙度分析)4.OlympusDSX1000数码显微镜(500倍率微观形貌观测)5.HexagonAbsoluteARM七轴测量臂(大尺寸构件现场检测)6.ZygoNewView9000相移干涉仪(亚纳米级精度测量)7.TaylorHobsonFormTalysurfPGINOVUS轮廓仪(接触式精密测量)8.OGPSmartScopeFlash500多传感器系统(混合式尺寸测量)9.NikonMM-400U测量显微镜(微米级二维尺寸分析)10.Panametrics-NDT38DLPLUS超声波测厚仪(材料厚度验证)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

基底沟检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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