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再辉检测仪器

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文章概述:1. 粒度分析仪:用于测量物料的粒度分布,通过传感器探测物料中颗粒的尺寸大小,并生成粒度分布曲线。
2. 显微镜:用于观察和分析样品的微观结构和表面形态,可以提供样品的显微图像,

1. 粒度分析仪:用于测量物料的粒度分布,通过传感器探测物料中颗粒的尺寸大小,并生成粒度分布曲线。

2. 显微镜:用于观察和分析样品的微观结构和表面形态,可以提供样品的显微图像,并进行定量和定性的分析。

3. 色谱仪:用于分离和测定混合物中的化合物,可根据不同化合物的分子间相互作用力差异,通过流动相和固定相的相互作用将混合物分离成各个组成成分。

4. 热分析仪:包括热重分析仪和差热分析仪,用于研究样品在升温过程中的质量变化、热效应以及相变等性质,可以确定样品的热稳定性和热分解特性。

5. 光谱仪:包括紫外可见分光光度计、红外光谱仪、核磁共振仪等,用于分析样品的光学、电子能级和结构特性,可以确定样品的组分、结构和化学键等。

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中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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