检测项目

1.电阻变化率（ΔR/R₀）：初始阻值偏差0.5%，老化后阻值波动≤3%2.电容衰减率（C/C₀）：额定电压下容量损失≤5%/1000h3.介电损耗角（tanδ）：1MHz频率下允许值≤0.024.热膨胀系数（CTE）：Z轴方向≤15ppm/℃（-55~125℃）5.抗弯强度衰减：三点弯曲试验强度保留率≥85%

检测范围

1.PCB基材：FR-4、聚酰亚胺高频板材2.半导体封装材料：环氧模塑料、硅凝胶3.连接器镀层：金镀层（0.05-0.2μm）、锡镀层（3-8μm）4.功率器件散热基板：AlN陶瓷、铜钼合金5.柔性电路材料：聚酯薄膜（25-125μm）、导电银浆

检测方法

1.ASTMD150-11介电常数与损耗因子测试2.IPC-TM-6502.4.24热应力分层试验3.GB/T2423.22-2012温度循环试验4.ISO6721-2动态力学分析(DMA)5.SJ/T11482-2014微电阻四探针测试法

检测设备

1.KeysightE4980A精密LCR表：10Hz-2MHz阻抗测量2.NetzschDMA242E动态热机械分析仪：-150~600℃模量测试3.ESPECTAS-112ESL温循箱：-70~180℃快速温变4.MitutoyoLSM-902S激光轮廓仪：0.1μm形变监测5.Agilent4156C半导体参数分析仪：pA级漏电流检测6.Instron5967万能材料试验机：50kN载荷精度0.5%7.HitachiSU5000场发射电镜：1nm分辨率断面分析8.ThermoFisherNicoletiS50FTIR：4cm⁻红外光谱解析9.XenonXLS-1000氙灯老化箱：0.55W/m@340nm辐照度10.FourDimensionsRS-35四探针台：0.1mΩcm方阻测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。