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二维走向面检测

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文章概述:检测项目1.平面度公差:测量基准面与理论平面的最大偏离值(0.05mm/m)2.表面粗糙度Ra值:评估0.8-6.3μm范围内的算术平均偏差3.波纹度Wz:分析波长0.1-10mm的周期性起伏高度(≤5μm)4.局部曲率半径:测定R50-R500mm范围内的曲面连续性5.边缘直线度:控制加工边界的最大偏移量(0.02mm/100mm)检测范围1.金属板材:航空航天用铝合金结构件(厚度0.5-20mm)2.高分子薄膜:电子封装用聚酰亚胺基材(厚度25-125μm)3.陶瓷基板:LED散热基片(尺寸10010

检测项目

1.平面度公差:测量基准面与理论平面的最大偏离值(0.05mm/m)2.表面粗糙度Ra值:评估0.8-6.3μm范围内的算术平均偏差3.波纹度Wz:分析波长0.1-10mm的周期性起伏高度(≤5μm)4.局部曲率半径:测定R50-R500mm范围内的曲面连续性5.边缘直线度:控制加工边界的最大偏移量(0.02mm/100mm)

检测范围

1.金属板材:航空航天用铝合金结构件(厚度0.5-20mm)2.高分子薄膜:电子封装用聚酰亚胺基材(厚度25-125μm)3.陶瓷基板:LED散热基片(尺寸1001001mm)4.复合材料面板:碳纤维增强环氧树脂构件(铺层角度1)5.光学玻璃:激光准直器窗口片(面形精度λ/4@632.8nm)

检测方法

1.ASTME1127-20《非接触式表面轮廓测量标准指南》2.ISO4287:1997《表面结构轮廓法术语定义及参数》3.GB/T29552-2013《纤维增强复合材料层合板面内性能试验方法》4.ISO12781-1:2011《几何产品规范(GPS)平面度》5.GB/T1800.2-2020《产品几何技术规范(GPS)线性尺寸公差ISO代号体系》

检测设备

1.TaylorHobsonPGI1240:非接触式光学轮廓仪(分辨率0.1nm)2.MitutoyoSJ-410:接触式表面粗糙度仪(Ra测量范围0.05-10μm)3.KeyenceVR-5000:三维激光扫描测量系统(采样点距5μm)4.ZygoNewView9000:白光干涉仪(垂直分辨率0.1nm)5.HexagonAbsoluteArm7325:七轴便携式测量臂(空间精度15μm)6.OlympusLEXTOLS5000:激光共聚焦显微镜(放大倍率10800)7.NikonNEXIVVMZ-S6560:视频测量系统(重复精度0.8μm)8.RenishawXL-80:激光干涉仪(线性测量精度0.5ppm)9]AliconaInfiniteFocusG5:变焦三维显微系统(横向分辨率10μm)10]ZeissSurfcomFlex50A:全自动表面轮廓仪(Z轴量程50mm)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

二维走向面检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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