检测项目

1.涂层厚度测量：分辨率0.1μm，量程5-500μm2.材料密度分析：精度0.05g/cm3.表面孔隙率检测：孔径识别范围0.5-50μm4.层间结合强度评估：误差≤3%FS5.异质材料界面缺陷识别：最小检出尺寸20μm

检测范围

1.金属镀层（锌镍合金/硬铬/阳极氧化膜）2.陶瓷基热障涂层（YSZ/Al₂O₃）3.高分子复合材料（CFRP/GFRP）4.半导体薄膜（硅基氮化镓/ITO导电层）5.玻璃制品（夹层玻璃/低辐射镀膜玻璃）

检测方法

1.ASTMB568-18使用X射线光谱法测量涂层厚度2.ISO3497:2020金属镀层X射线荧光测定法3.GB/T16921-2022金属覆盖层厚度测量β背散射法4.ASTME2867-14相位分辨背反射热成像检测标准5.GB/T38761-2020电子背散射衍射分析方法通则

检测设备

1.Olympus38DLPLUS超声测厚仪：频率范围1-30MHz2.FischerXDL-BX射线荧光镀层测厚仪：多元素同步分析3.KeyenceVK-X1000激光共聚焦显微镜：三维表面重构4.BrukerD8DISCOVERX射线衍射仪：θ/θ测角仪系统5.ThermoScientificNitonXL5手持式XRF分析仪：50kV/200μA微焦斑管6.HitachiSU5000场发射电镜：1nm分辨率背散射探头7.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD平台：PIXcel3D探测器8.ZeissSmartproof5共聚焦显微镜：785nm激光波长9.ShimadzuEDX-7000能量色散光谱仪：Be窗SDD探测

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。