检测项目

1.纯度分析：总杂质含量≤0.5%，金属杂质（Fe、Ni、Cu）单项≤50ppm2.晶体结构分析：XRD法测定晶胞参数a=3.820.02，空间群Pm-3m3.元素比例测定：Re:O:F摩尔比1:3:10.054.热稳定性测试：TG-DSC联用测定分解温度≥450℃5.表面形貌表征：SEM观测粒径分布0.5-2μm占比≥90%

检测范围

1.石油化工催化剂：含ReO3F的加氢脱硫催化剂体系2.半导体前驱体：高纯ReO3F薄膜沉积材料3.高温合金添加剂：航空发动机用Re基合金母材4.电化学器件：固体氧化物燃料电池阴极材料5.特种玻璃原料：高折射率光学玻璃制备原料

检测方法

1.ASTME1479-16电感耦合等离子体发射光谱法测定金属杂质2.ISO20289:2017X射线荧光光谱法测定主量元素3.GB/T17432-2012化学试剂X射线衍射分析方法4.ISO16258-1:2015工作场所空气中可吸入结晶二氧化硅的XRD测定（适配改性）5.GB/T4336-2016碳素钢和中低合金钢火花源原子发射光谱分析法（扩展应用）

检测设备

1.PANalyticalX'Pert3PowderXRD：晶体结构解析精度0.0001nm2.ThermoFisheriCAPPROICP-OES：检出限达ppb级3.HitachiSU5000场发射SEM：分辨率1nm@15kV4.NetzschSTA449F5同步热分析仪：温度精度0.1℃5.BrukerS8TIGERXRF：元素检测范围B-U6.Metrohm905Titrando电位滴定仪：氟离子选择性电极法测F含量7.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm8.Agilent7900ICP-MS：同位素比值测定精度0.05%RSD9.PerkinElmerSpectrumTwoFTIR：中红外光谱

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。