内容页头部

短焦点线照射检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:短焦点线照射检测是一种非破坏性分析技术,通过聚焦射线束实现高精度测量材料的元素组成和结构特性。该方法适用于工业质量控制领域的关键参数评估,包括元素含量、厚度和缺陷识别等核心指标。

检测项目

元素含量分析(检出限0.001%,测量范围0.01%-100%);涂层厚度测量(精度0.05μm);表面缺陷识别(最小尺寸0.1mm);合金成分测定(误差0.5%);镀层均匀性评估(分辨率1μm);污染物浓度量化(检出限1ppm);材料密度计算(精度0.01g/cm);微观结构成像(放大倍数1000x);应力分布分析(灵敏度0.1MPa);腐蚀程度评估(分级标准A-D);热影响区表征(温度范围20-1000℃);相变点测定(误差5℃)。

检测范围

金属合金材料;塑料聚合物制品;电子元器件;汽车零部件;航空航天复合材料;医疗器械;建筑材料;化工产品;食品包装材料;纺织品;陶瓷制品;玻璃制品;橡胶制品;涂料涂层;半导体器件。

检测方法

ASTME1257:StandardTestMethodforAnalysisofAluminumandAluminumAlloysbySparkAtomicEmissionSpectrometry;ISO3497:Metalliccoatings—Measurementofcoatingthickness—X-rayspectrometricmethods;GB/T17359:Microbeamanalysis—Quantitativeanalysisusingenergy-dispersivespectrometry(EDS);GB/T7997:Aluminumandaluminumalloys—Determinationofsiliconcontent—Spectrophotometricmethodwithmolybdenumblue;ASTMD6247:StandardTestMethodforDeterminationofElementalContentofPolyolefinsbyWavelengthDispersiveX-rayFluorescenceSpectrometry;ISO14596:Petroleumproducts—Determinationofsulfurcontent—Wavelength-dispersiveX-rayfluorescencespectrometry;GB/T20123:Ironandsteel—Determinationoftotalcarboncontent—Infraredabsorptionmethodaftercombustioninaninductionfurnace。

检测设备

XRF光谱仪ModelXF-200(功能:快速元素扫描和分析);电子显微镜ModelEM-500(功能:高分辨率表面成像);厚度计ModelTC-150(功能:非接触式涂层测量);能谱仪ModelEDX-300(功能:元素定量测定);应力分析仪ModelSA-100(功能:残余应力分布映射);热像仪ModelTI-250(功能:温度场可视化);密度计ModelDC-180(功能:材料密度精确计算);缺陷探测器ModelDD-220(功能:微裂纹识别);腐蚀测试仪ModelCT-190(功能:氧化程度评估);相变分析仪ModelPA-210(功能:组织结构变化监测)。

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

短焦点线照射检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

全站搜索

中析研究所