检测项目

几何尺寸检测：

• 横向尺寸测量：平均长度（L50）、平均宽度（W50）（单位：nm，参照ISO/TS21356）
• 长宽比计算：比值范围（0.5-5.0）

• 纳米片厚度测量：平均厚度（Tavg≤1.2nm）厚度标准差（SD≤0.3nm）
• 层数判定：单层率（≥95%）

• 表面粗糙度：Ra值（≤0.5nm）
• 边缘完整性：缺陷密度（≤5个/μm²）

• 团聚指数：团聚系数（CI≤0.1）
• 分散均匀性：均匀度指数（UI≥0.8）

• 尺寸分布宽度：D10D90值（范围差≤50nm）
• 分布曲线拟合：拟合优度（R²≥0.98）

• 纳米片数量密度：颗粒/μm²（100-500）
• 形状因子：圆形度（≥0.7）

• 厚度变异系数：CV值（≤10%）
• 最大厚度偏差：偏差值（±0.5nm）

• 长宽比分布：均值（1.5-3.0）标准差（≤0.5）
• 各向异性指数：AI值（0.6-1.0）

• 浓度计算：颗粒/mL（106-109）
• 尺寸频率分布：直方图分析

• 孔洞检测：孔洞数量（≤3个/片）
• 褶皱评估：褶皱密度（≤2%）

检测范围

1.单层石墨烯纳米片：侧重厚度均一性和原子层完整性检测，确保D50值在50-200nm范围

2.多层石墨烯纳米片：关注层数和厚度分布对界面结合的影响，检测平均厚度1.2-5nm

3.氧化石墨烯纳米片：评估含氧基团对尺寸稳定性的作用，重点检测表面缺陷和分散性

4.功能化石墨烯复合材料：检测化学修饰导致的尺寸变化，侧重表面形态和团聚指数

5.石墨烯增强聚合物：分析纳米片分散对力学性能的贡献，测量颗粒浓度和均匀度

6.石墨烯电极材料：优化尺寸分布对电导率的影响，核心检测长宽比和厚度一致性

7.石墨烯量子点：量化小尺寸纳米片（<10nm）的分布宽度，侧重D10值和形状因子

8.石墨烯纳米带：检测长宽比和边缘缺陷，确保分布曲线符合应用要求

9.石墨烯气凝胶：评估三维结构中的尺寸分散性，重点测团聚系数和孔隙率

10.石墨烯纳米墨水：分析喷墨打印适用性，检测浓度均匀度和表面粗糙度

检测方法

国际标准：

• ISO/TS21356:2021纳米材料尺寸分布测量指南
• ASTME2865-22石墨烯纳米片表征标准方法
• ISO13322:2021颗粒尺寸分析图像分析方法

• GB/T30544.1-2014纳米技术纳米颗粒尺寸分布测量透射电子显微镜法
• GB/T35509-2017纳米材料扫描电子显微镜测试方法
• GB/T40367-2021纳米材料激光衍射法粒度分析

检测设备

1.扫描电子显微镜：HitachiSU8200型（分辨率0.4nm）

2.透射电子显微镜：JEOLJEM-2100F型（加速电压200kV）

3.原子力显微镜：BrukerDimensionIcon型（XYZ分辨率0.1nm）

4.激光粒度分析仪：MalvernMastersizer3000型（测量范围0.01-3500μm）

5.动态光散射仪：WyattDynaProNanoStar型（粒径范围0.5-1000nm）

6.图像分析系统：OlympusStreamBasic型（处理速度100图像/分钟）

7.超声波分散仪：HielscherUP200St型（功率200W）

8.拉曼光谱仪：RenishawinVia型（分辨率1cm⁻¹）

9.X射线衍射仪：ShimadzuXRD-7000型（精度0.001°）

10.纳米颗粒计数器：ParticleSizingSystemsAccuSizer型（计数范围0.5-400μm）

11.表面轮廓仪：ZygoNexview型（垂直分辨率0.1nm）

12.离心粒度仪：BeckmanCoulterLS13320型（转速范围100-20000rpm）

13.光学显微镜：LeicaDM6000型（放大倍数1000x）

14.红外光谱仪：ThermoNicoletiS50型（波长范围4000-400cm⁻¹）

15.超声探针系统：SonicsVibra-Cell型（频率20kHz）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。