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电磁兼容干扰屏蔽效果检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:电磁兼容干扰屏蔽效果检测核心技术聚焦电磁屏蔽效能(SE)量化评估,涵盖30MHz至40GHz频段内电场、磁场及平面波衰减值(dB)等核心参数。关键检测项目包含材料表面转移阻抗、屏蔽体接缝泄漏、谐振抑制效能及环境适应性验证,采用电波暗室法、GTEM小室法及法兰同轴法,依据IEC 61000-4-21、GB/T 12190等标准,确保电子设备在复杂电磁环境中满足辐射发射限值与抗扰度要求。

检测项目

屏蔽效能检测:

  • 电场屏蔽衰减:30MHz-6GHz频段衰减值(dB,参照IEC61000-4-21)
  • 磁场屏蔽衰减:10kHz-30MHz频段衰减值(dB,依据IEEE299.1)
  • 平面波屏蔽衰减:300MHz-40GHz频段衰减值(dB,符合GB/T12190)
材料固有属性:
  • 体积电阻率:≤1.0×10-3Ω·cm(ASTMD991)
  • 相对导磁率:1MHz下μr≥100(IEC60404-15)
  • 介电常数:1GHz下εr≤5.0(ASTMD150)
结构完整性:
  • 接缝转移阻抗:DC-100kHz≤10mΩ/m(IEC62153-4-3)
  • 通风孔阵泄漏:18GHz下衰减≥80dB(MIL-STD-285)
  • 电缆屏蔽抑制:1GHz下转移阻抗≤20mΩ/m(EN50289-1-6)
环境耐受性:
  • 湿热循环后SE衰减:85℃/85%RH500h后衰减变化≤3dB(GB/T2423.4)
  • 盐雾腐蚀后导电性:中性盐雾96h后电阻变化率≤15%(ISO9227)
动态性能:
  • 谐振频率抑制:识别300MHz-10GHz谐振点抑制≥20dB(DO-160GSection20)
  • 瞬态脉冲抑制:ESD30kV接触放电下屏蔽失效等级(IEC61000-4-2)
复合材料界面:
  • 层间接触电阻:≤0.1Ω/cm²(SAEARP1172)
  • 镀层结合强度:≥8MPa(ASTMB571)
大电流特性:
  • 屏蔽体涡流损耗:50Hz下Peddy≤5W/kg(IEC60404-10)
近场抑制:
  • 磁近场衰减:100kHz下≥40dB(IEEE1309)
光学透波兼容:
  • 可见光透过率:≥70%(同时满足SE≥30dB@1.5GHz)
长期稳定性:
  • 机械振动后SE:10-2000Hz30g振动后衰减变化≤2dB(IEC60068-2-6)

检测范围

1.导电高分子复合材料:碳系/金属填料填充聚合物,重点检测填料分散均匀性与频变特性

2.金属箔材及镀层:铜/铝箔(厚度0.01-0.5mm)、磁控溅射Ni-Cu薄膜,验证基材结合力与高频趋肤效应

3.电磁屏蔽织物:金属纤维混纺/化学镀织物,检测弯曲疲劳后导电性与透湿性影响

4.导电橡胶衬垫:硅橡胶基镍石墨/银铝复合衬垫,测试压缩永久变形率与接触阻抗

5.金属机箱与屏蔽室:钢板/铝镁合金壳体,验证接缝焊接连续性及通风波导截止频率

6.光学屏蔽组件:ITO镀膜玻璃/金属微网屏蔽视窗,兼顾透光率与GHz频段屏蔽均匀性

7.线缆屏蔽层:编织层/铝塑复合带,评估转移阻抗与弯曲工况下的屏蔽完整性

8.吸波-屏蔽一体化材料:铁氧体-导电层复合结构,检测1-18GHz频带反射/吸收协同效能

9.纳米屏蔽涂层:银纳米线/石墨烯涂层,验证膜厚≤10μm时的直流导通性与微波反射损耗

10.导电胶粘剂:银环氧树脂/铜硅胶,测试固化后体积电阻率及湿热老化稳定性

检测方法

国际标准:

  • IEC61000-4-21:2011电波暗室法屏蔽效能测量
  • ASTMD4935-18平面波电磁屏蔽材料SE测试
  • ISOJianCe52-8:2015TEM小室组件屏蔽评估
  • IEEE299.1:2013大型屏蔽体低频磁屏蔽测试
国家标准:
  • GB/T12190-2021电磁屏蔽室屏蔽效能测量
  • GB/T17626.5-2019浪涌冲击屏蔽失效判定
  • GB/T25066-2020导电薄膜方阻测量四探针法
  • GJB6190-2008军用屏蔽机房测试规范
方法差异:GB/T12190采用1.5m天线距离,IEC61000-4-21要求≥3m;ASTMD4935使用同轴夹具测平面波,适用材料而非整机;IEEE299.1采用亥姆霍兹线圈磁场源,GB/T25066规定四探针电极间距1mm±0.01mm

检测设备

1.矢量网络分析仪:KeysightN5227B(频率范围10MHz-67GHz,动态范围≥140dB)

2.半电波暗室:10m法暗室(屏蔽效能≥100dB@18GHz,背景噪声≤6dBμV/m)

3.法兰同轴测试系统:ETS-Lindgren7405(频率DC-18GHz,阻抗50Ω±1%)

4.TEM/GTEM小室:SchwarzbeckTDEMIGTEM3000(工作频率DC-18GHz,EUT容积1m³)

5.磁近场探头组:LangerEMV-TechnikRF-R400(频率9kHz-30MHz,分辨率1mm)

6.转移阻抗测试仪:DCMT-2000(频率DC-3GHz,精度±0.5dB)

7.四探针电阻仪:LucasLabsPRO4(量程10-4-106Ω/□,压力0.5-2.0kg可调)

8.材料参数测试夹具:SPEAGDAK-12(测量εrr,频率300MHz-5GHz)

9.高功率脉冲发生器:HaefelyPSURGE30kV(浪涌波形8/20μs,符合IEC61000-4-5)

10.频谱分析仪:R&SFSW67(分析带宽160MHz,相位噪声≤-137dBc/Hz@10kHz)

11.涡流导电仪:SigmaScopeSMP10(非接触测量导电率,分辨率0.1%IACS)

12.振动试验系统:LDSV994(推力30kN,频率范围5-3000Hz)

13.环境试验箱:WeissWK3-1800/70(温湿度范围-70℃~180℃,波动度±0.5℃)

14.盐雾试验箱:ASCOTTS1200(喷雾沉降量1.5ml/80cm²·h,pH值6.5-7.2)

15.扫描电子显微镜:JEOLJSM-7900F(分辨率1nm,EDS元素分析精度0.1at%)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

电磁兼容干扰屏蔽效果检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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