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量子计算元件超导特性测试

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:量子计算元件的超导特性测试聚焦于超导量子比特(Transmon、Fluxonium等)及其关联结构的性能表征。核心检测对象包括约瑟夫森结临界参数、微波谐振腔品质因子、材料本征损耗等。关键项目涵盖量子相干时间(T1/T2*)、能级跃迁频率、量子态读取保真度及超导薄膜微波表面阻抗,通过低温(<20mK)矢量网络分析和时域脉冲序列测量实现量化评估。

检测项目

量子相干特性:

  • 能量弛豫时间:T1(≥50μs,参照IEEE287-2020)
  • 退相干时间:T2*(≥30μs),T2echo(≥60μs)
  • 能级频率漂移:Δf/f0(≤1ppm/h)
约瑟夫森结参数:
  • 临界电流密度:Jc(1-10μA/μm²,参照NISTSP960-17)
  • 结电容:Cj(2-10fF,偏差±5%)
  • 亚微米结隧穿电阻:Rn(5-20kΩ)
微波谐振性能:
  • 本征品质因子:Qi(>1×10⁶@5-8GHz)
  • 耦合品质因子:Qc(可调范围1×10³-1×10⁵)
  • 谐振频率温度漂移:df/dT(≤100kHz/K)
超导薄膜特性:
  • 微波表面电阻:Rs(<1μΩ@4.2K/10GHz)
  • 磁场穿透深度:λL(80-200nm,偏差±3nm)
  • 临界磁场强度:Hc1(>50mT)
量子态操控性能:
  • 单比特门保真度:F1q(≥99.9%)
  • 读取保真度:Fread(≥98.5%)
  • 串扰误差:Xtalk(≤10⁻³)
热管理参数:
  • 基板热导率:κ(>100W/mK@4K)
  • 界面热阻:Rth(<10⁻⁶K·m²/W)
结构缺陷分析:
  • 隧穿结氧化层针孔密度:≤0.1/μm²
  • 超导膜界面粗糙度:Ra(≤2nm)
电磁兼容性:
  • 环境磁场敏感度:Δf/ΔB(≤50kHz/μT)
  • 微波相位噪声:Sφ(<-120dBc/Hz@1MHz)
封装性能:
  • 微波屏蔽效能:SE(>60dB@1-20GHz)
  • 密封腔体漏率:≤1×10⁻¹¹mbar·L/s
工艺可靠性:
  • 循环热应力耐受:>100次(77K↔4K)
  • 电子束曝光线宽一致性:CD(±5nm)

检测范围

1.铝基超导电路:薄膜厚度50-200nm,重点检测约瑟夫森结氧化势垒完整性及微波涡流损耗

2.铌三维谐振腔:表面处理(EP/CBP)后检测二次电子发射率及磁场俘获通量密度

3.氮化钛共面波导:晶圆级测试薄膜应力(≤500MPa)及介电损耗角正切(tanδ<10⁻⁶)

4.硅基超导量子芯片:高阻硅(>5kΩ·cm)衬底界面态密度及电荷噪声谱分析

5.蓝宝石微波基板:晶向偏差<0.5°时的介电各向异性及声子峰抑制效果

6.约瑟夫森结阵列器件:千结级阵列中临界电流涨落(σ/Ic<3%)及相位锁定精度

7.超导封装屏蔽罩:铅锡合金镀层(厚度>50μm)的迈斯纳效应完整性检测

8.低温互连组件:铌钛同轴电缆在4K下的微波插入损耗(<0.1dB/m@6GHz)

9.稀释制冷机冷台:振动谱分析(10-100Hz频段加速度<10μg)

10.超导量子存储器:谐振器-量子比特耦合强度(g/2π)的长期稳定性监测

检测方法

国际标准:

  • IEEE287-2020超导量子器件相干时间测量规范
  • IEC61788-25超导膜微波表面电阻测试(双谐振器法)
  • ASTMF2183-21薄膜微波谐振器本征损耗检测
国家标准:
  • GB/T40266-2021超导量子比特能谱测试方法
  • GB/T39172-2020低温电子器件热负载测试规范
  • JJF2058-2022稀释制冷机温度场校准规范(15mK-4K)
方法差异说明:GB/T40266采用π脉冲序列法测量T1,而IEEE287允许使用Rabi振荡衰减法;IEC61788-25要求0.5K测试温度,GB标准放宽至1.5K。

检测设备

1.稀释制冷系统:BlueForsLD400型(最低温度8mK,冷却功率400μW@100mK)

2.矢量网络分析仪:KeysightN5227B型(频率范围10MHz-67GHz,相位噪声<-122dBc/Hz@10kHz)

3.超导量子测试平台:ZurichInstrumentsSHFQC型(18通道量子控制,采样率2GSa/s)

4.低温探针台:LakeShoreCRX-6.5K型(温度稳定性±1mK,磁场强度±1T)

5.扫描微波显微镜:PrimeNanoAFM-RF120型(空间分辨率30nm,频率范围1-20GHz)

6.时间分辨单光子计数器:IDQuantiqueID281型(时间抖动<80ps,探测效率>30%)

7.低温磁光成像系统:CRYOGENICLtdMagView-4K型(磁场分辨率5μT,视场直径10mm)

8.超导薄膜分析仪:NeoceraTFA-MAP200型(临界温度精度±0.1K,膜厚测量范围5-500nm)

9.聚焦离子束工作站:ThermoFisherHeliosG5型(束流控制0.8pA-65nA,定位精度±1nm)

10.三维磁场补偿系统:TristanTechnologiesModel7300型(残余场<10nT,梯度<1μT/m)

11.低温微波谐振器:MagniconSC100型(Q值测试灵敏度>1×10⁹,温度范围0.1-10K)

12.原子力显微镜:BrukerDimensionIcon型(热漂移<500pm/h,噪声水平<30pmRMS)

13.电子束光刻系统:RaithEBPG5200型(最小线宽5nm,定位精度±1.5nm)

14.低温参数分析仪:KeithleyK4200A-SCS型(电流分辨率0.1fA,电压噪声<1nV/√Hz)

15.超导量子干涉仪:STARCryoelectronicsMC-302型(磁通噪声<1μΦ0/√Hz)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

量子计算元件超导特性测试
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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