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精密仪器加工防静电干扰屏蔽试验

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:本文针对精密仪器加工中的防静电干扰屏蔽试验,核心检测对象包括导电材料、屏蔽涂层及组装部件,关键项目涵盖表面电阻、屏蔽效能、静电衰减、接地电阻等参数,确保在静电和电磁干扰环境下设备的可靠性与兼容性。试验依据国际标准如IEC 61340和ASTM D4935,通过精密设备测量材料性能,防止静电积聚和电磁泄漏,提升精密仪器的稳定性和安全性。

检测项目

静电性能检测:

  • 表面电阻:电阻值范围(10^3-10^12Ω/sq,参照IEC61340-5-1)
  • 静电衰减:衰减时间(≤2.0s,参照MIL-STD-1686)
  • 电荷量:最大电荷密度(≤50nC/m²)
屏蔽效能检测:
  • 电场屏蔽:屏蔽效能(30dB-120dB,频率范围10kHz-1GHz)
  • 磁场屏蔽:屏蔽效能(20dB-80dB,频率范围50Hz-100kHz)
  • 平面波屏蔽:屏蔽效能(40dB-100dB,频率范围1GHz-10GHz)
接地性能检测:
  • 接地电阻:电阻值(≤0.1Ω,参照IEEE81)
  • 接地连续性:导通电阻(≤0.05Ω)
材料导电性检测:
  • 体积电阻率:电阻率值(10^-4-10^8Ω·cm)
  • 表面电导率:电导率值(10^-8-10^2S/m)
环境适应性检测:
  • 温湿度循环:电阻变化率(±10%,温度-40°C至85°C,湿度10%-90%RH)
  • 腐蚀试验:表面腐蚀等级(≤Level3,参照ASTMB117)
机械性能检测:
  • 附着力:剥离强度(≥5N/cm,参照ASTMD3359)
  • 耐磨性:磨损循环次数(≥1000次,载荷500g)
静电放电检测:
  • ESD抗扰度:放电电压(±2kV-±15kV,参照IEC61000-4-2)
  • ESD敏感度:故障阈值电压(≥2000V)
电磁兼容性检测:
  • 辐射发射:场强值(≤40dBμV/m,频率30MHz-1GHz)
  • 传导发射:电压值(≤50dBμV,频率150kHz-30MHz)
绝缘性能检测:
  • 绝缘电阻:电阻值(≥10^9Ω,参照IEC60167)
  • 介电强度:击穿电压(≥3kV/mm)
封装完整性检测:
  • 密封性:泄漏率(≤10^-6mbar·L/s)
  • 屏蔽完整性:缝隙衰减(≥20dB)

检测范围

1.导电塑料材料:用于仪器外壳和部件,重点检测表面电阻和静电衰减性能,确保静电耗散。

2.金属屏蔽罩:涵盖铜、铝等材质,侧重屏蔽效能和接地连续性,防止电磁泄漏。

3.屏蔽涂料和涂层:包括导电漆和金属镀层,检测厚度均匀性和屏蔽效能稳定性。

4.防静电织物和薄膜:用于包装和覆盖,重点测试表面电阻和耐磨性,避免静电积聚。

5.接地线和连接器:涉及铜缆和端子,检测接地电阻和机械耐久性,确保可靠连接。

6.复合屏蔽材料:如金属-聚合物层压板,侧重整体屏蔽性能和环境适应性。

7.电子组件和PCB:包括电路板和元件,检测ESD抗扰度和绝缘电阻,防止静电损伤。

8.密封屏蔽enclosure:用于精密仪器外壳,重点测试屏蔽完整性和密封性,阻隔外部干扰。

9.柔性屏蔽材料:如导电泡沫和gasket,检测压缩set和屏蔽效能,确保长期有效性。

10.纳米导电材料:包括碳纳米管涂层,侧重电导率和腐蚀resistance,适用于高精度环境。

检测方法

国际标准:

  • IEC61340-5-1电子设备防静电控制程序
  • ASTMD4935-18平面材料电磁屏蔽效能测量
  • MIL-STD-1686C静电放电控制标准
  • IEEE81-2012接地系统测试指南
  • IEC61000-4-2电磁兼容性-静电放电抗扰度测试
国家标准:
  • GB/T12190-2021电磁屏蔽室屏蔽效能测量方法
  • GB/T20991-2007防静电鞋和地板电阻测试
  • GB/T17626.2-2018电磁兼容试验-静电放电抗扰度
  • GB/T1410-2006固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验
  • GB/T2423.17-2008电工电子产品环境试验-盐雾试验
方法差异说明:国际标准如IEC61340侧重整体静电控制体系,而国家标准GB/T12190更注重屏蔽室的具体测量;ASTMD4935使用平面波导法,GB/T12190采用频段扫描法,在频率范围上有细微差异;IEC61000-4-2的ESD测试波形与GB/T17626.2基本一致,但电压等级和验证程序略有不同。

检测设备

1.表面电阻测试仪:SRM-110型(测量范围10^3-10^13Ω,精度±5%)

2.屏蔽效能测试系统:EM-2100系列(频率范围10kHz-18GHz,动态范围120dB)

3.静电衰减测试仪:ESD-500A型(衰减时间测量范围0.1s-10s,分辨率0.01s)

4.接地电阻测试仪:ER-4000型(测量范围0.001Ω-2000Ω,精度±2%)

5.网络分析仪:VNA-101B型(频率范围100kHz-20GHz,S参数测量)

6.环境试验箱:THS-300系列(温度范围-70°C至150°C,湿度控制10%-98%RH)

7.ESD模拟器:ESD-8000型(放电电压±0.1kV-±30kV,符合IEC61000-4-2)

8.耐磨试验机:AB-500型(载荷范围50g-1000g,循环次数0-9999次)

9.盐雾试验箱:YW-100型(温度控制35°C±2°C,盐雾沉降率1-2mL/80cm²·h)

10.高绝缘电阻测试仪:IR-2000型(测量范围10^6-10^16Ω,电压DC10V-1000V)

11.泄漏检测仪:LD-150型(灵敏度10^-6mbar·L/s,氦质谱法)

12.材料厚度测量仪:MT-100型(测量范围0-10mm,精度±0.1μm)

13.电导率测试仪:CD-500型(测量范围10^-8-10^6S/m,四探针法)

14.辐射发射测试系统:RE-3000型(频率范围30MHz-6GHz,天线增益3dBi-10dBi)

15.振动试验台:VT-200型(频率范围5Hz-2000Hz,最大加速度10g)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

精密仪器加工防静电干扰屏蔽试验
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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