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余高检测方法

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文章概述:1. 余高检测是一种用于测量物体高度的方法。
2. 最常用的方法是使用测量仪器,如测量尺或激光测距仪,将其放置在物体底部,然后将仪器向上移动,直到仪器顶部与物体接触。
3. 通过

1. 余高检测是一种用于测量物体高度的方法。

2. 最常用的方法是使用测量仪器,如测量尺或激光测距仪,将其放置在物体底部,然后将仪器向上移动,直到仪器顶部与物体接触。

3. 通过读取测量仪器上的数值,可以得到物体的高度。

4. 在进行余高检测时,需要确保仪器的精度和稳定性,避免因误差引起测量结果的偏差。

余高检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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