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正半锥体检测仪器

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文章概述:1. 三坐标测量仪:用于测量正半锥体的尺寸、形状和位置等参数,可以精确测量其高度、底面半径和锥角等。
2. 光学投影仪:通过光电测量方法对正半锥体进行投射测量,可以获得其底面

1. 三坐标测量仪:用于测量正半锥体的尺寸、形状和位置等参数,可以精确测量其高度、底面半径和锥角等。

2. 光学投影仪:通过光电测量方法对正半锥体进行投射测量,可以获得其底面形状、轮廓曲线等信息。

3. 表面粗糙度测量仪:用于测量正半锥体表面的粗糙度,可以评估其表面光滑度。

4. 光谱仪:用于分析正半锥体材料的成分和化学组成,可以进行材料鉴定和质量检测。

5. 强度测试机:用于测量正半锥体的强度和刚度,可以评估其力学性能。

正半锥体检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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